logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A63.7016 Benchtop Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+EDS, 100000x

Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x

  • Menyoroti

    SEM filamen tungsten benchtop

    ,

    mikroskop elektron pemindaian dengan EDS

    ,

    mikroskop elektron pembesaran 100000x

  • Resolusi
    130eV
  • Tegangan akselerasi
    5 kV, 10 kV, 15 kV
  • Tahap sampel bergerak 3D
    X:±25mm Y:±25mm Z:30mm
  • Sampel ukuran maksimum
    "90mm(diameter) 40mm(ketebalan)"
  • Pistol Elektron
    Filamen tungsten kartrid pra-pusat
  • Sinyal gambar
    Elektron hamburan balik
  • Tempat asal
    Cina
  • Nama merek
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Sertifikasi
    CE, Rohs
  • Nomor model
    A63.7016
  • Dokumen
  • Kuantitas min Order
    1 buah
  • Harga
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Kemasan rincian
    Kemasan Karton, Untuk Transportasi Ekspor
  • Waktu pengiriman
    5 ~ 20 hari
  • Syarat-syarat pembayaran
    T/T, West Union, Paypal
  • Menyediakan kemampuan
    5000 buah/bulan

Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x

Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop
SE+BSE+EDS, pembesaran 100000x
Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 0 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 1
Kinerja Analitik Tingkat Lanjut
SuperSEM A63.7016 mendobrak tradisi dengan analisis unsur EDS waktu nyata, menggabungkan teknologi SEM dan EDS dalam sistem optik elektron canggih. Dengan kinerja analitik yang luar biasa, pencitraan warna semu spektroskopi dispersif energi secara real-time, dan pengoperasian yang mudah digunakan, alat ini memungkinkan analisis mendalam terhadap struktur permukaan dan unsur kimia sampel.
Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 2
A63.7016 Fitur Utama SuperSEM
  • Selalu tampilkan spektrum sinar-X secara real-time
  • Spektroskopi Dispersif Energi (EDS) Waktu Nyata Pencitraan Warna Semu
  • Soroti elemen yang menarik selama analisis
Ikhtisar Teknologi
Mikroskop elektron pemindaian menggunakan berkas elektron sebagai sumber penerangan, menyinari sampel dengan berkas elektron halus yang terfokus dengan cara pemindaian raster. Ini menghasilkan berbagai informasi terkait sifat sampel, yang dikumpulkan dan diproses untuk mendapatkan gambar morfologi mikroskopis yang diperbesar. Dibandingkan dengan mikroskop optik atau transmisi, mikroskop ini menawarkan resolusi tinggi, kedalaman bidang yang besar, dan kemampuan pencitraan tiga dimensi.
Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 3 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 4 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 5
Keunggulan Kinerja
  • Kecepatan Pemindaian Cepat:Bandwidth akuisisi sinyal hingga 10M. Mode video memungkinkan pengamatan sampel secara real-time tanpa bayangan atau jejak, memastikan tidak ada detail yang terlewat.
  • Desain Kompak:Perangkat yang efisien secara struktural tidak memerlukan ruang peralatan khusus atau meja isolasi getaran tambahan. Plug-and-play dengan daya listrik standar, cocok untuk ruang laboratorium terbatas.
  • Teknik Pewarnaan Tingkat Lanjut:Pewarnaan gambar SEM secara visual menyorot detail sampel, meningkatkan pengenalan fitur, dan memfasilitasi analisis. Diferensiasi warna dapat mengungkap komposisi material, sehingga meningkatkan hasil penelitian.
  • Perbandingan Spektral Waktu Nyata:Hasil kuantitatif ditampilkan secara real-time tanpa menyelesaikan pengumpulan, sehingga memungkinkan perbandingan dengan spektrum sebelumnya selama proses pengumpulan.
  • Analisis Spektrum Energi yang Divisualisasikan:Pilih rentang analisis secara bebas untuk titik, garis, atau permukaan. Algoritme visualisasi yang sangat baik mencapai pemisahan yang tepat dari puncak spektral dekat dan menampilkan distribusi spasial unsur untuk mempelajari karakteristik material.
Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 6 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 7
Spesifikasi Teknis
Spesifikasi A63.7016 A63.7016-X A63.7016-V A63.7016-L
Resolusi 130eV 130eV 130eV 130eV
Tegangan akselerasi 5 kV, 10 kV, 15 kV 5 kV, 10 kV, 15 kV 5 kV, 20 kV, 25 kV, 30 kV 5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV, 25 kV, 30 kV
Tahap sampel bergerak 3D X:±25mm Y:±25mm Z:30mm X:±25mm Y:±25mm Z:30mm X:±25mm Y:±25mm Z:30mm X:±50mm Y:±50mm Z:60mm
Sampel ukuran maksimum 90mm(diameter) 40mm(ketebalan) 90mm(diameter) 40mm(ketebalan) 90mm(diameter) 40mm(ketebalan) 200mm(diameter) 60mm(ketebalan)
Mengalikan Kekuatan ×10 ~ ×100.000 (Pembesaran foto) ×25 ~ ×250.000 (Pengganda tampilan)
Senjata Elektron Filamen tungsten kartrid pra-pusat
Detektor BSE: Detektor BSE 4 segmen Sensitivitas Tinggi BSE: Detektor BSE 4 segmen Sensitivitas Tinggi
SE: Detektor elektron sekunder
EDS: Pencitraan warna semu spektrum energi waktu nyata
Parameter EDS / Jenis detektor: detektor penyimpangan silikon
Area deteksi: 30mm²
Resolusi: 130eV
Rentang analisis unsur: B-Cf
Sinyal gambar Elektron hamburan balik Elektron hamburan balik, Detektor spektrum energi real-time yang dikembangkan sendiri, Elektron sekunder, Campuran (Elektron hamburan balik + Elektron sekunder + Pencitraan warna semu spektrum energi real-time)
Modus vakum Standar, Pengurangan pengisian daya
Konduktor BSE, Standar, Pengurangan pengisian daya
Ukuran (L×L×T) 292mm×570mm×515mm 292mm×570mm×515mm 292mm×570mm×515mm 292mm×570mm×515mm
Berat 55KG 56KG 57KG 66KG
Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 8 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 9 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 10 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 11 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 12 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 13 Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop, SE+BSE+EDS, 100000x 14
Aplikasi
SuperSEM A63.7016 dilengkapi dengan tegangan akselerasi tinggi, kemampuan pengamatan multi-sudut, dan perangkat lunak analisis data pendukung yang memungkinkan pemfokusan otomatis, pemindaian cepat, dan pengamatan distribusi elemen sampel secara real-time dalam mode video. Teknologi ini memastikan akuisisi dan analisis gambar yang akurat dan efisien untuk material termasuk logam, keramik, baterai, pelapis, semen, dan bahan lunak, menjadikannya alat yang ampuh untuk penelitian ilmiah dan pengujian industri.