Opto Edu A63.7016 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten Benchtop
SE+BSE+EDS, pembesaran 100000x
Kinerja Analitik Tingkat Lanjut
SuperSEM A63.7016 mendobrak tradisi dengan analisis unsur EDS waktu nyata, menggabungkan teknologi SEM dan EDS dalam sistem optik elektron canggih. Dengan kinerja analitik yang luar biasa, pencitraan warna semu spektroskopi dispersif energi secara real-time, dan pengoperasian yang mudah digunakan, alat ini memungkinkan analisis mendalam terhadap struktur permukaan dan unsur kimia sampel.
A63.7016 Fitur Utama SuperSEM
- Selalu tampilkan spektrum sinar-X secara real-time
- Spektroskopi Dispersif Energi (EDS) Waktu Nyata Pencitraan Warna Semu
- Soroti elemen yang menarik selama analisis
Ikhtisar Teknologi
Mikroskop elektron pemindaian menggunakan berkas elektron sebagai sumber penerangan, menyinari sampel dengan berkas elektron halus yang terfokus dengan cara pemindaian raster. Ini menghasilkan berbagai informasi terkait sifat sampel, yang dikumpulkan dan diproses untuk mendapatkan gambar morfologi mikroskopis yang diperbesar. Dibandingkan dengan mikroskop optik atau transmisi, mikroskop ini menawarkan resolusi tinggi, kedalaman bidang yang besar, dan kemampuan pencitraan tiga dimensi.
Keunggulan Kinerja
- Kecepatan Pemindaian Cepat:Bandwidth akuisisi sinyal hingga 10M. Mode video memungkinkan pengamatan sampel secara real-time tanpa bayangan atau jejak, memastikan tidak ada detail yang terlewat.
- Desain Kompak:Perangkat yang efisien secara struktural tidak memerlukan ruang peralatan khusus atau meja isolasi getaran tambahan. Plug-and-play dengan daya listrik standar, cocok untuk ruang laboratorium terbatas.
- Teknik Pewarnaan Tingkat Lanjut:Pewarnaan gambar SEM secara visual menyorot detail sampel, meningkatkan pengenalan fitur, dan memfasilitasi analisis. Diferensiasi warna dapat mengungkap komposisi material, sehingga meningkatkan hasil penelitian.
- Perbandingan Spektral Waktu Nyata:Hasil kuantitatif ditampilkan secara real-time tanpa menyelesaikan pengumpulan, sehingga memungkinkan perbandingan dengan spektrum sebelumnya selama proses pengumpulan.
- Analisis Spektrum Energi yang Divisualisasikan:Pilih rentang analisis secara bebas untuk titik, garis, atau permukaan. Algoritme visualisasi yang sangat baik mencapai pemisahan yang tepat dari puncak spektral dekat dan menampilkan distribusi spasial unsur untuk mempelajari karakteristik material.
Spesifikasi Teknis
| Spesifikasi |
A63.7016 |
A63.7016-X |
A63.7016-V |
A63.7016-L |
| Resolusi |
130eV |
130eV |
130eV |
130eV |
| Tegangan akselerasi |
5 kV, 10 kV, 15 kV |
5 kV, 10 kV, 15 kV |
5 kV, 20 kV, 25 kV, 30 kV |
5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV, 25 kV, 30 kV |
| Tahap sampel bergerak 3D |
X:±25mm Y:±25mm Z:30mm |
X:±25mm Y:±25mm Z:30mm |
X:±25mm Y:±25mm Z:30mm |
X:±50mm Y:±50mm Z:60mm |
| Sampel ukuran maksimum |
90mm(diameter) 40mm(ketebalan) |
90mm(diameter) 40mm(ketebalan) |
90mm(diameter) 40mm(ketebalan) |
200mm(diameter) 60mm(ketebalan) |
| Mengalikan Kekuatan |
×10 ~ ×100.000 (Pembesaran foto) ×25 ~ ×250.000 (Pengganda tampilan) |
| Senjata Elektron |
Filamen tungsten kartrid pra-pusat |
| Detektor |
BSE: Detektor BSE 4 segmen Sensitivitas Tinggi |
BSE: Detektor BSE 4 segmen Sensitivitas Tinggi SE: Detektor elektron sekunder EDS: Pencitraan warna semu spektrum energi waktu nyata |
| Parameter EDS |
/ |
Jenis detektor: detektor penyimpangan silikon Area deteksi: 30mm² Resolusi: 130eV Rentang analisis unsur: B-Cf |
| Sinyal gambar |
Elektron hamburan balik |
Elektron hamburan balik, Detektor spektrum energi real-time yang dikembangkan sendiri, Elektron sekunder, Campuran (Elektron hamburan balik + Elektron sekunder + Pencitraan warna semu spektrum energi real-time) |
| Modus vakum |
Standar, Pengurangan pengisian daya |
| Konduktor |
BSE, Standar, Pengurangan pengisian daya |
| Ukuran (L×L×T) |
292mm×570mm×515mm |
292mm×570mm×515mm |
292mm×570mm×515mm |
292mm×570mm×515mm |
| Berat |
55KG |
56KG |
57KG |
66KG |
Aplikasi
SuperSEM A63.7016 dilengkapi dengan tegangan akselerasi tinggi, kemampuan pengamatan multi-sudut, dan perangkat lunak analisis data pendukung yang memungkinkan pemfokusan otomatis, pemindaian cepat, dan pengamatan distribusi elemen sampel secara real-time dalam mode video. Teknologi ini memastikan akuisisi dan analisis gambar yang akurat dan efisien untuk material termasuk logam, keramik, baterai, pelapis, semen, dan bahan lunak, menjadikannya alat yang ampuh untuk penelitian ilmiah dan pengujian industri.