Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten A63.7001, SE+BSE, 150000x | |
Resolusi | 6nm@30KV(SE) |
Pembesaran | 150000x |
Senjata Elektron | Kartrid Filamen Tungsten Pra-Pusat |
Voltase | Mempercepat Tegangan 1 ~ 15KV, Dapat Disesuaikan Terus Menerus, Sesuaikan Langkah 1KV |
Detektor | Standar: SE, BSE, CCD |
Opsional: EDS | |
Sistem Vakum | Kontrol Otomatis Penuh Sistem Vakum Tinggi, Waktu Vakum <2 Menit |
Tahap Spesimen | Panggung Otomatis XY Standar, Rentang Perjalanan 30x30mm, |
Panggung 5 Sumbu Opsional | |
Spesimen Maks | 50 x H35mm |
Jarak Kerja | 5-35mm |
Kondensator | Built-in Condenser Tidak Perlu Manual Menyesuaikan Aperture (LaB6 Opsional) |
Sistem Gambar | SE, BSE, BSE+SE(Campuran) Modus Pindai: 1. Mode Video: 512x512 Piksel, Tidak Perlu Pemindaian Jendela Kecil 2. Mode Cepat: Waktu Pindai <3 detik, 512x512 Piksel, 3. Mode Lambat: Waktu Pemindaian <40 detik, 2048x2048 Piksel, Format File Gambar: BMP, TIFF, JPG, PNG |
Navigasi | Navigasi CCD Optik (Bukan Navigasi Gambar Listrik) |
Fungsi Otomatis | Fokus Otomatis Satu Tombol, Penyesuaian Kecerahan & Kontras Otomatis |
Perangkat lunak komputer | Stasiun Kerja PC Sistem Win 10, Dengan Perangkat Lunak Analisis Gambar Profesional Untuk Mengontrol Operasi Mikroskop SEM Sepenuhnya, Spesifikasi Komputer Tidak Kurang Dari Inter I5 3.2GHz, Memori 4G, Monitor LCD IPS 24", Hard Disk 500G, Mouse, Keyboard |
Kondisi kerja | 220V / 50Hz 1KW, Tidak Perlu Meja Penyerap Guncangan |
Dimensi |
Mikroskop Tubuh 283*553*505mm
Pompa Mekanik 340 * 160 * 140mm |
Aksesoris opsional | |
A50.7002 | Spektrometer Sinar-X Dispersi Energi EDS |
A50.7011 | Lapisan Sputtering Ion |