Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com

OPTO-EDU A63.7004 Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 360000x 3nm@20KV

OPTO-EDU A63.7004 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Kristal Tunggal SE BSE 360000x 3nm@20KV

Resolution

3nm@20KV
Magnification

360000x
Electron Gun

LaB6
Voltage

3-20KV
Detector

BSE+SE
Navigation CCD

CCD+Cabin Camera
Place of Origin

China
Nama merek

CNOEC, OPTO-EDU
Sertifikasi

CE, Rohs
Model Number

A63.7004
Dokumen

Brosur Produk PDF
Minimum Order Quantity

1 pc
Harga

FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
Packaging Details

Carton Packing, For Export Transportation
Delivery Time

5~20 Days
Payment Terms

T/T, West Union, Paypal
Supply Ability

5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7004 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Kristal Tunggal SE BSE 360000x 3nm@20KV

button button

Dapatkan Harga Hubungi sekarang

Perbesar 360000x Resolusi 3nm@20KV Dengan Detektor SE+BSE+CCD, EDS Opsional
Standar X/Y Motorized Stage, Opsional 3 Axis X/Y/Z, 5 Axis X/Y/Z/R/T
Single Crystal LaB6 Filament Cartridge Tegangan 20kV, Waktu Hidup >1500 Jam
Sistem vakum tinggi dengan pompa rotasi mekanis untuk mendapatkan vakum dalam 30s
Satu tombol auto fokus, auto kecerahan & kontras menyesuaikan, tidak perlu Shock Absorbing Table

A63.7004 Desktop Scanning Electron Microscopes (SEM), upgrade pistol dari tungsten ke LaB6,menggabungkan banyak teknologi inovatif, menawarkan tidak hanya kinerja pencitraan yang sangat baik tetapi juga portabilitas, melayani berbagai kebutuhan aplikasi.Baik di dalam negeri maupun internasional, seri ZEM, dengan posisi high-end dan model yang beragam, telah mencapai standar canggih dalam kejelasan pencitraan, keramahan pengguna, dan integrasi sistem.

A63.7004adalah terkenal dengan tingkat tinggi integrasi dan pilihan konfigurasi yang fleksibel. antarmuka pengguna sederhana, mudah dipelajari, dan beroperasi, yang memungkinkan bahkan pengguna non-ahli untuk cepat menjadi mahir.Perangkat lunak yang disertakan mendukung seluruh alur kerja, mulai dari persiapan sampel, penyesuaian parameter, hingga analisis gambar, memberikan solusi yang terintegrasi dan efisien.A63.7004telah menunjukkan kemampuan analisis yang kuat di berbagai bidang seperti bahan baru, energi baru, biomedis, dan semikonduktor,membantu para peneliti dalam mengeksplorasi misteri dunia mikroskopisKarena rasio biaya-kinerja yang sangat baik, seri ZEM telah menjadi pilihan pilihan bagi banyak universitas, lembaga penelitian,dan perusahaan yang mencari mikroskop elektron pemindaian desktop.

A63.7004 benchtop SEM menggunakan rentang yang lebih luas dari tegangan akselerasi, langkah 1Kv dan pembesaran maksimum 360,000x dengan resolusi hingga 5nm Mode decelerasi meja memungkinkan pengamatan waktu nyata dari produk konduktivitas rendah tanpa perlu penyemprotan emasKompartemen sampel yang sangat besar dapat diintegrasikan dengan berbagai platform ekspansi in situ untuk memenuhi kebutuhan eksperimen dan inspeksi yang berbeda.

Kondisi kerja:

Persyaratan lingkungan: ukuran kecil, seluruh mesin dapat ditempatkan di atas meja laboratorium biasa, tidak perlu dilengkapi dengan meja penyerap kejut tambahan.

1Sumber daya 220V, 50Hz, 1KW

2.Suhu: Suhu lingkungan operasi: 15°C-30°C

3.Humiditas: < 80%RH

Spesifikasi utama:

1. tegangan akselerasi: 3-20kV, terus diatur.

2. Jenis senapan elektron: filamen LaB6 kristal tunggal yang telah diselaraskan sebelumnya, waktu hidup 1500 jam, lensa senapan dua tahap yang sangat terintegrasi, tidak perlu menyesuaikan diafragma lensa objek secara manual.

3. pembesaran ≥ 360000X;

4Resolusi:≤3nm@20KV

5Detektor: detektor elektron sekunder (SE), detektor retrograde empat kali lipat (BSE),

6. Tahap: 2 Axis XY motorized stage, bergerak 60x55mm;

7. Ukuran sampel maksimum: 100 * 78 * 68.5mm sementara sumbu XY bergerak bebas

8. Perubahan sampel dan waktu pompa vakum tinggi ≤ 90s.

9Sistem vakum tinggi: pompa mekanik, pompa molekul turbo, pompa ion, vakum dalam ruang sampel ≥ 4x10-2Pa, kontrol otomatis penuh;

10. Mode video ≥512x512 piksel, tidak perlu pemindaian jendela kecil.

11. Mode scan cepat: waktu pencitraan≤3s, 512x512 piksel.

12. Mode pemindaian lambat: waktu pencitraan≤40s, 2048x2048 piksel.

13. File gambar: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. Satu tombol pengaturan otomatis kecerahan dan kontras, auto-fokus, gambar besar menjahit

15Fungsi navigasi: navigasi kamera optik dan kamera kabin.

16Fungsi pengukuran gambar: jarak, sudut, dll.

17Termasuk komputer & perangkat lunak, kontrol mouse.

18Opsional:

-- Filament tungsten (20 pcs/kotak)

--EDS

--3 Axis Motorized Stage XYZ

--3 Axis Motorized Stage XYT

--5 Axis Motorized Stage XYZRT

--Vakuum rendah (1-60Pa)

--In-situ tahap dari pabrik asli, pemanasan, pendinginan, peregangan, dll

-- Mode deceleration, 1-10KV, dapat mengamati sampel non-konduktor atau konduktivitas yang buruk tanpa semprot emas, hanya untuk mode BSE

--Platform penyerap guncangan (Rekomendasi untuk A63.7004)

19Ukuran mikroskop 650*370*642mm, ukuran pompa mekanik 340*160*140mm

Model	A63.7001	A63.7002	A63.7003	A63.7004	A63.7005
Resolusi	10nm@15KV	6nm@18KV	4nm@20KV	3nm@20KV	2.5nm@15KV
Perbesar	150000x	200000x	360000x	360000x	1000000x
Senjata Elektron	Tungsten	Tungsten	Tungsten	LaB6	Schotty FEG
Tegangan	5/10/15KV	3-18KV	3-20KV	3-20KV	1-15KV
Detektor	BSE+SE	BSE+SE	BSE+SE	BSE+SE	BSE+SE
Navigasi CCD	CCD	CCD	CCD+Kamera kabin	CCD+Kamera kabin	CCD+Kamera kabin
Waktu Vakum	90an	90an	Tahun 30-an	90an	180s
Sistem vakum	Pompa Mekanis Pompa Molekuler	Pompa Mekanis Pompa Molekuler	Pompa Mekanis Pompa Molekuler	Pompa Mekanis Pompa Molekuler Pompa Ion	Pompa Mekanis Pompa Molekuler Pompa Ion x2
Vakum	Vakum Tinggi 1x10-1Pa	Vakum Tinggi 1x10-1Pa	Vakum Tinggi 1x10-1Pa	Vakum Tinggi 5x10-4Pa	Vakum Tinggi 5x10-4Pa
Tahap	Tahap XY, 40x30/40x40mm	Tahap XY, 40x30/40x40mm	Tahap XY, 60x55mm	Tahap XY, 60x55mm	Tahap XY, 60x55mm
Keakuratan Tahap	-	Posisi tepat 5um
Jarak kerja	5-35mm	5-35mm	5-73,4 mm	5-73,4 mm	5-73,4 mm
Max Spesimen	80x42x40mm	80x42x40mm	100x78x68.5mm	100x78x68.5mm	100x78x68.5mm
Opsional	Tungsten Filament 20 pcs/kotak			Laboratorium 6 Filament	Lampu Emisi Lapangan
	EDS Oxford AZtecOne dengan XploreCompact 30
	-	Low Vacuum 1-100Pa		Low Vacuum 1-30Pa
	-	Modul sumbu Z	3 Axis Stage, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm
	-	Modul sumbu T	3 Axis Stage, X 60mm, Y 50mm, T ± 20°
	-	-	5 Axis Stage, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ± 20°, R 360°
	-	-	Platform penyerap kejut, untuk 3 sumbu, 5 sumbu tahap
	-	Modus Perlahan 1-10KV Untuk Memantau Sampel Non-konduktif, Hanya Untuk BSE
	-	Tahap In-Situ Dari Pabrik Asli, Pemanasan, Pendinginan, Peregangan, dll.
	UPS

▶AZtecOne dengan XploreCompact 30 untuk TTM

Sistem Analisis Eds konvensional

Sistem ini menyediakan analisis kualitatif dan kuantitatif dari bahan yang berbeda, menganalisis elemen mulai dari B ((5) sampai cf (98).pemindaian garis yang kuat dan pemindaian spektral unsur juga tersedia. dikombinasikan dengan detektor yang disesuaikan, analisis dan pelaporan dapat dilakukan dalam hitungan detik.

Daerah Kristal Efektif	30mm2	Resolusi (Sebuah Foto)	Mn Ka <129eV @50,000cps
Jangkauan Deteksi Unsur	B (5) sampai cf (98)	Tingkat Penghitungan Masuk Maksimal	>1,000,000 cps

Dapatkan Penawaran

OPTO-EDU A63.7004 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Kristal Tunggal SE BSE 360000x 3nm@20KV

OPTO-EDU A63.7004 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Kristal Tunggal SE BSE 360000x 3nm@20KV

Mikroskop Digital Portable

Mikroskop Digital genggam

mikroskop genggam

Opto Edu A63.7069 Pemindaian Mikroskop Elektron Instrumen Std 8x~300000x

Lab Mikroskop Elektron Pemindaian Tahap Lima Sumbu Dengan Pistol Elektron Dipanaskan Tungsten

Resolusi Tinggi Pemindaian Digital Mikroskop Optik Tahap Sampel Besar

1.6kv Mini Scanning Electron Microscope Sample Coating Ion Sputtering Coater

Pemindaian Mikroskop Elektron Opto Edu A63.7001 SE+BSE 150000x

A64.1095 Opto Edu Laser Confocal Microscope Bermotor Otomatis Penuh