Mikroskop Gaya Atom Tingkat Pengajaran

• Tingkat Pengajaran Pengontrol terpisah & desain bodi utama, dengan Mode Tapping, 4x Objective, Miniaturized Detachable Design
• Kepala deteksi laser dan tahap pemindaian sampel terintegrasi, strukturnya sangat stabil, dan anti-interferensinya kuat
• Metode pengumpanan jarum cerdas dari deteksi otomatis keramik piezoelektrik bertekanan yang dikendalikan motor melindungi probe dan sampel
• Pemosisian optik otomatis, tidak perlu fokus, pengamatan waktu nyata dan pemosisian area pemindaian sampel probe
• Metode shockproof suspensi pegas, sederhana dan praktis, efek shockproof yang baik
• 
• 

• Kepala deteksi laser dan tahap pemindaian sampel terintegrasi, strukturnya sangat stabil, dan anti-interferensinya kuat

  Perangkat pemosisian probe presisi, penyesuaian penyelarasan titik laser sangat mudah

   

  Sampel penggerak sumbu tunggal secara otomatis mendekati probe secara vertikal, sehingga ujung jarum tegak lurus dengan pemindaian sampel

   

  Metode pengumpanan jarum cerdas dari deteksi otomatis keramik piezoelektrik bertekanan yang dikendalikan motor melindungi probe dan sampel

   

  Pemosisian optik otomatis, tidak perlu fokus, pengamatan waktu nyata dan pemosisian area pemindaian sampel probe

   

  Metode shockproof suspensi pegas, sederhana dan praktis, efek shockproof yang baik

  Kotak kedap suara berpelindung logam, sensor suhu dan kelembaban presisi tinggi, pemantauan lingkungan kerja secara real-time

  Editor pengguna koreksi nonlinier pemindai terintegrasi, karakterisasi nanometer, dan akurasi pengukuran lebih baik dari 98

• 

• 

• Spesifikasi	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Mode kerja	Mode Penyadapan [Opsional] Mode Kontak Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik	Mode Kontak Mode Penyadapan [Opsional] Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik	Mode Kontak Mode Penyadapan [Opsional] Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik	Mode Kontak Mode Penyadapan [Opsional] Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik
  Kurva Spektrum Saat Ini	Kurva RMS-Z [Opsional] Kurva Gaya FZ	Kurva RMS-Z Kurva Gaya FZ	Kurva RMS-Z Kurva Gaya FZ	Kurva RMS-Z Kurva Gaya FZ
  Rentang Pemindaian XY	20 × 20um	20 × 20um	50 × 50um	50 × 50um
  Resolusi Pemindaian XY	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Rentang Pemindaian Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Resolusi Pemindaian Y	0,05nm	0,05nm	0,05nm	0,05nm
  Kecepatan Pindai	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Memindai Sudut	0~360 °	0~360 °	0~360 °	0~360 °
  Ukuran sampel	90mm H≤20mm	90mm H≤20mm	90mm H≤20mm	90mm H≤20mm
  Gerakan Panggung XY	15 × 15mm	15 × 15mm	25 × 25um	25 × 25um
  Desain Penyerap Guncangan	Suspensi Musim Semi	Suspensi Musim Semi Kotak Perisai Logam	Suspensi Musim Semi Kotak Perisai Logam	-
  Sistem Optik	4x Tujuan Resolusi 2.5um	4x Tujuan Resolusi 2.5um	10x Tujuan Resolusi 1um	Lensa mata 10x Paket Infinity LWD APO 5x10x20x50x Kamera Digital 5.0M Monitor LCD 10 ", Dengan Pengukuran Pencahayaan Kohler LED Pemfokusan Kasar & Halus Koaksial
  Keluaran	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Perangkat lunak	Menangkan XP/7/8/10	Menangkan XP/7/8/10	Menangkan XP/7/8/10	Menangkan XP/7/8/10

• Mikroskop	Mikroskop optik	Mikroskop elektron	Pemindaian Mikroskop Probe
  Resolusi Maks (um)	0.18	0,00011	0,00008
  Komentar	Minyak imersi 1500x	Pencitraan atom karbon berlian	Pencitraan atom karbon grafit orde tinggi

• Interaksi Probe-Sampel	Mengukur Sinyal	Informasi
  Memaksa	Gaya elektrostatik	Membentuk
  Arus Terowongan	Saat ini	Bentuk, Konduktivitas
  Gaya magnetis	Fase	Struktur Magnetik
  Gaya elektrostatik	Fase	distribusi muatan

• 	Resolusi	Situasi kerja	Suhu Kerja	Kerusakan pada Sampel	Kedalaman Inspeksi
  SPM	Tingkat Atom 0.1nm	Normal, Cair, Vakum	Kamar atau Suhu Rendah	Tidak ada	1~2 Tingkat Atom
  TEM	Titik 0,3 ~ 0,5nm Kisi 0.1~0.2nm	Vakum Tinggi	Suhu Kamar	Kecil	Biasanya <100nm
  SEM	6-10nm	Vakum Tinggi	Suhu Kamar	Kecil	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Tingkat Atom 0.1nm	Vakum Super Tinggi	30~80K	kerusakan	Ketebalan Atom

• 

•