logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

Produk - Mikroskop Pemindaian
  • Menyoroti

    Mikroskop elektron pemindaian emisi 8x

    ,

    mikroskop elektron pemindaian emisi pistol schottky

  • Resolusi
    1,5nm@15KV(SE); 3nm@20KV(BSE)
  • Pembesaran
    1x~600000x
  • Pistol Elektron
    Senjata Elektron Emisi Schottky
  • Tegangan percepatan
    0~30KV
  • Sistem Vakum
    Pompa Ion, Pompa Molekuler Turbo, Pompa Rotasi
  • Tahap Spesimen
    Panggung Bermotor Eusentris Lima Sumbu
  • Arus balok elektron
    10pA~0,3μA
  • Diameter Spesimen Maks
    175mm
  • Tempat asal
    Cina
  • Nama merek
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Sertifikasi
    CE,
  • Nomor model
    A63.7080
  • Dokumen
    Brosur Produk PDF
  • Kuantitas min Order
    1 pc
  • Harga
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Kemasan rincian
    Packing karton, Untuk Ekspor Transportasi
  • Waktu pengiriman
    5 ~ 20 Hari
  • Syarat-syarat pembayaran
    T/T, West Union, Paypal
  • Menyediakan kemampuan
    5000 PCS / Bulan

1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
  • 1x~600000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem
Dapatkan Harga Hubungi sekarang
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 0
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 1
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 2
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 3
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 4
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 5
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 6
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 7
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 8
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 9
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 10
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 11
 
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 12
 
A63.7080, A63.7081 Fungsi Utama Perangkat Lunak
Komisioning terintegrasi tegangan tinggi Filamen otomatis hidup/mati Peraturan pergeseran potensial
Penyesuaian kecerahan Penyesuaian listrik ke pusat Kecerahan otomatis
Penyesuaian kontras Penyesuaian lensa objektif Fokus otomatis
Penyesuaian pembesaran Degaussing obyektif Penghapusan astigmatisme otomatis
Mode pemindaian area yang dipilih Penyesuaian putaran listrik Manajemen parameter mikroskop
Mode pemindaian titik Penyesuaian perpindahan berkas elektron Tampilan waktu nyata dari ukuran bidang pemindaian
Mode pemindaian garis Penyesuaian kemiringan berkas elektron Penyesuaian lensa senjata
Pemindaian permukaan Penyesuaian kecepatan pemindaian Masukan multisaluran
Pemantauan daya tegangan tinggi Ayunan terpusat Pengukuran penggaris


1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 13
1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 14
 
SEM A63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 A63.7080
A63.7080-L		 A63.7081
Resolusi 3nm@30KV(SE)
6nm@30KV(BSE)		 1,5nm@30KV(SE)
3nm@30KV(BSE)		 1,0nm@30KV(SE)
3,0nm@1KV(SE)
2,5nm@30KV(BSE)
Pembesaran 1x~450000x,Pembesaran Nyata Negatif 1x~600000x, Pembesaran Sebenarnya Negatif 1x~3000000x Pembesaran Sebenarnya Negatif
Senjata Elektron Kartrid Filamen Tungsten Pra-Pusat Senjata Emisi Lapangan Schottky Senjata Emisi Lapangan Schottky
Voltase Mempercepat Tegangan 0,2～30kV, Dapat Disesuaikan Terus Menerus, Sesuaikan Langkah 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Tampilan Cepat Fungsi Gambar Tampilan Cepat Satu Tombol T/A T/A
Sistem Lensa Lensa Tapered Elektromagnetik Tiga Tingkat Lensa Meruncing Elektromagnetik Multi-level
Bukaan 3 Bukaan Objektif Molibdenum, Dapat Disesuaikan Di Luar Sistem Vakum, Tidak Perlu Membongkar Tujuan untuk Mengubah Bukaan
Sistem Vakum 1 Pompa Molekuler Turbo
1 Pompa Mekanik
Vakum Ruang Sampel>2.6E-3Pa
Vakum Ruang Pistol Elektron>2.6E-3Pa
Kontrol Vakum Sepenuhnya Otomatis
Fungsi Interlock Vakum

Model Opsional: A63.7069-LV
1 Pompa Molekuler Turbo
2Pompa Mekanik
Vakum Ruang Sampel>2.6E-3Pa
Vakum Ruang Pistol Elektron>2.6E-3Pa
Kontrol Vakum Sepenuhnya Otomatis
Fungsi Interlock Vakum
Vakum RendahRentang 10~270Pa Untuk Peralihan Cepat dalam 90 Detik Untuk BSE(LV)		 1 Set Pompa Ion
1 Pompa Molekuler Turbo
1 Pompa Mekanik
Vakum Ruang Sampel>6E-4Pa
Vakum Ruang Pistol Elektron>2E-7 Pa
Kontrol Vakum Sepenuhnya Otomatis
Fungsi Interlock Vakum		 1 Pompa Ion Sputter
1 Pompa Senyawa Ion Pengambil
1 Pompa Molekuler Turbo
1 Pompa Mekanik
Vakum Ruang Sampel>6E-4Pa
Vakum Ruang Pistol Elektron>2E-7 Pa
Kontrol Vakum Sepenuhnya Otomatis
Fungsi Interlock Vakum
Detektor SE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor) SE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor) SE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor)
BSE: Segmentasi Semikonduktor 4
Detektor Hamburan Belakang		 Opsional Opsional
Model Opsional: A63.7069-LV
SADARI(LV): Segmentasi Semikonduktor 4
Detektor Hamburan Belakang		 　 　
CCD:Kamera CCD Inframerah CCD:Kamera CCD Inframerah CCD:Kamera CCD Inframerah
Perluas Pelabuhan 2 Perpanjang Port Pada Ruang Sampel Untuk
EDS, BSD, WDS dll.		 4 Perluas Port Pada Ruang Sampel Untuk
BSE, EDS, BSD, WDS dll.		 4 Perluas Port Pada Ruang Sampel Untuk
BSE, EDS, BSD, WDS dll.
Tahap Spesimen Tahap 5 Sumbu, 4Mobil+1petunjukKontrol
Jangkauan Perjalanan:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90°(Manual)
Sentuh Fungsi Peringatan & Berhenti

Model Opsional:
A63.7069-LTahap Besar Otomatis 5 Sumbu		 5 SumbuMobil TengahPanggung
Jangkauan Perjalanan:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Sentuh Fungsi Peringatan & Berhenti

Model Opsional:
A63.7080-L5 SumbuMobil BesarPanggung		 5 SumbuMobil BesarPanggung
Jangkauan Perjalanan:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Sentuh Fungsi Peringatan & Berhenti
Spesimen Maks Dia.175mm, Tinggi 35mm Dia.175mm, Tinggi 20mm Dia.340mm, Tinggi 50mm
Sistem Gambar Gambar Diam Nyata Resolusi Maks 4096x4096 Piksel,
Format File Gambar: BMP (Default), GIF, JPG, PNG, TIF		 Gambar Diam Nyata Resolusi Maks 16384x16384 Piksel,
Format File Gambar: TIF(Default), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Rekam Otomatis Video .AVI Digital		 Gambar Diam Nyata Resolusi Maks 16384x16384 Piksel,
Format File Gambar: TIF(Default), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Rekam Otomatis Video .AVI Digital
Komputer & Perangkat Lunak Stasiun Kerja PC Sistem Win 10, Dengan Perangkat Lunak Analisis Gambar Profesional Untuk Mengontrol Sepenuhnya Seluruh Operasi Mikroskop SEM, Spesifikasi Komputer Tidak Kurang Dari Inter I5 3.2GHz, Memori 4G, Monitor LCD IPS 24", Hard Disk 500G, Mouse, Keyboard
Tampilan Foto Tingkat Gambar Kaya Dan Teliti, Menampilkan Pembesaran Waktu Nyata, Penggaris, Tegangan, Kurva Abu-abu
Dimensi
& Berat		 Badan Mikroskop 800x800x1850mm
Meja Kerja 1340x850x740mm
Berat Total 400Kg		 Badan Mikroskop 800x800x1480mm
Meja Kerja 1340x850x740mm
Berat Total 450Kg		 Badan Mikroskop 1000x1000x1730mm
Meja Kerja 1330x850x740mm
Berat Total 550Kg
Aksesori Opsional
Aksesori Opsional A50.7002Spektrometer Sinar-X Dispersi Energi EDS
A50.7011Pelapis Sputtering Ion		 A50.7001Detektor Elektron Hamburan Kembali BSE
A50.7002Spektrometer Sinar-X Dispersi Energi EDS
A50.7011Pelapis Sputtering Ion
A50.7030Panel Kontrol Motorisasi		 A50.7001Detektor Elektron Hamburan Kembali BSE
A50.7002Spektrometer Sinar-X Dispersi Energi EDS
A50.7011Pelapis Sputtering Ion
A50.7030Panel Kontrol Motorisasi

1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 15

1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 16
A50.7001 Detektor SADARI Detektor Hamburan Belakang Empat Segmen Semikonduktor;
Tersedia Dalam Bahan A+B, Info Morfologi AB;
Sampel yang Tersedia Amati Tanpa Menyemprotkan Emas;
Tersedia Dalam Mengamati Pengotor Dan Distribusi Dari Peta Grayscale Secara Langsung.
A50.7002 EDS (Detektor Sinar X) Jendela Silicon Nitride (Si3N4) Untuk Mengoptimalkan Transmisi Sinar-X Energi Rendah Untuk Analisis Elemen Cahaya;
Resolusi Luar Biasa Dan Perangkat Elektronik Tingkat Kebisingan Rendah Yang Canggih Memberikan Kinerja Throughput Yang Luar Biasa;
Jejak Kecil Menawarkan Fleksibilitas Untuk Memastikan Kondisi Geometri Dan Pengumpulan Aata Yang Ideal;
Detektor Berisi Chip 30mm2.
A50.7003 EBSD (Difraksi Hamburan Balik Berkas Elektron) pengguna dapat menganalisis orientasi kristal, fase kristal dan tekstur mikro bahan serta kinerja bahan terkait, dll.
optimasi otomatis pengaturan kamera EBSD
selama pengumpulan data, lakukan analisis interaktif real-time untuk memperoleh informasi yang maksimal
semua data diberi label waktu, yang dapat dilihat kapan saja
resolusi tinggi 1392 x 1040 x 12
Kecepatan pemindaian dan indeks: 198 poin / detik, dengan Ni sebagai standar, dalam kondisi 2~5nA, dapat memastikan tingkat indeks ≥99%;
bekerja dengan baik pada kondisi arus pancaran rendah dan tegangan rendah 5kV pada 100pA
akurasi pengukuran orientasi: Lebih baik dari 0,1 derajat
Menggunakan sistem indeks tripleks: tidak perlu bergantung pada definisi pita tunggal, pengindeksan mudah dengan kualitas pola yang buruk
database khusus: database khusus EBSD yang diperoleh dengan difraksi elektron: >400 struktur fasa
Kemampuan indeks: secara otomatis dapat mengindeks semua bahan kristal dari 7 sistem kristal.
Opsi lanjutannya antara lain menghitung kekakuan elastis (Elastic Stiffness), faktor Taylor (Taylor), faktor Schmidt (Schmid), dan seterusnya.
A50.7010 Mesin Pelapis Cangkang Pelindung Kaca: ∮250mm; Tinggi 340mm;
Ruang Pengolahan Kaca:
∮88mm; Tinggi 140mm, ∮88mm; Tinggi 57mm;
Ukuran Tahap Spesimen: ∮40mm (maks);
Sistem Vakum: Pompa Molekul Dan Pompa Mekanik;
Deteksi Vakum: Pirani Gage;
Vakum: lebih baik Dari 2 X 10-3 Pa;
Perlindungan Vakum: 20 Pa Dengan Katup Inflasi Skala Mikro;
Pergerakan Spesimen: Rotasi Bidang, Presesi Kemiringan.
A50.7011 Pelapis Sputtering Ion Ruang Pengolahan Kaca: ∮100mm; Tinggi 130mm;
Ukuran Tahap Spesimen: ∮40mm (Tahan 6 Cangkir Spesimen) ;
Ukuran Target Emas: ∮58mm*0,12mm (ketebalan);
Deteksi Vakum: Pirani Gage;
Perlindungan Vakum: 20 Pa Dengan Katup Inflasi Skala Mikro;
Gas Sedang:argon Atau Udara Dengan Saluran Masuk Udara Khusus Gas Argon Dan Gas Yang Diatur Dalam Skala Mikro.
A50.7012 Pelapis Sputtering Ion Argon Sampel Disepuh Dengan Karbon Dan Emas Di Bawah Vakum Tinggi;
Tabel Sampel yang Dapat Diputar, Lapisan Seragam, Ukuran Partikel Sekitar 3-5nm;
Tidak Ada Pemilihan Bahan Target, Tidak Ada Kerusakan Pada Sampel;
Fungsi Pembersihan Ion Dan Penipisan Ion Dapat Diwujudkan.
A50.7013 Pengering Titik Kritis Diameter dalam: 82mm, Panjang bagian dalam: 82mm;
Kisaran Tekanan: 0-2000psi;
Kisaran Suhu:0°-50°C (32°-122°F)
A50.7014 Litografi Berkas Elektron Berdasarkan Pemindaian Mikroskop Elektron, Sistem Paparan Nano Baru Dikembangkan;
Modifikasi Telah Mempertahankan Semua Fungsi Sem Untuk Membuat Gambar Lebar Garis Skala Nano;
Sistem Ebl yang Dimodifikasi Secara Luas Diterapkan pada Perangkat Mikroelektronik, Perangkat Optoelektronik, Perangkat Quantun, Litbang Sistem Mikroelektronika.

1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 17
A63.7080, A63.7081 Pakaian Bahan Habis Pakai Standar
1 Filamen Emisi Lapangan Dipasang Di Mikroskop 1 buah
2 Piala Sampel Dia.13mm 5 buah
3 Piala Sampel Dia.32mm 5 buah
4 Pita Konduktif Karbon Dua Sisi 6mm 1 Paket
5 Gemuk Vakum 　 10 buah
6 Kain Tak Berbulu 　 1 tabung
7 Pasta Poles 　 1 buah
8 Kotak Sampel 　 2 tas
9 Penyeka kapas 　 1 buah
10 Filter Kabut Minyak 　 1 buah
A63.7080, A63.7081 Peralatan Standar & Perlengkapan Suku Cadang
1 Kunci Pas Segi Enam Bagian Dalam 1,5mm~10mm 1 Set
2 Pinset Panjang 100-120mm 1 buah
3 Obeng Berlubang 2*50mm, 2*125mm 2 buah
4 Obeng Silang 2*125mm 1 buah
5 Bersihkan pipa ventilasi Dia.10/6.5mm (Diameter Keluar/Diameter Dalam) 5m
6 Katup pengurang tekanan ventilasi Tekanan Keluaran 0-0,6MPa 1 buah
7 Catu daya kue internal 0-3A DC 2 buah
8 Catu daya UPS 10kVA 2 buah

1x~600000x Pemindaian Emisi Mikroskop Elektron Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 18
Tag:

Mikroskop Digital Portable

Mikroskop Digital genggam

mikroskop genggam

Produk-produk terkait

Produk kami dijual di seluruh dunia. Anda dapat yakin dengan seluruh proses produk kami.

Dapatkan Penawaran